光學(xué)冷熱臺(tái)ck-1200

一、儀器用途：

光學(xué)冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫光學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。

產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測(cè)試。根據(jù)需要，還可以選型光反射或光透射模式。

產(chǎn)品需要與溫度控制器、致冷控制器（選配）配套使用，配套的上位機(jī)控溫軟件方便進(jìn)行溫度設(shè)置及采集，提供的Labview Vis方便客戶進(jìn)行定制化編程。

二、儀器特點(diǎn)：

• 溫度范圍：-190~600℃ / RT~1200℃

• 溫度穩(wěn)定性：±0.1℃（＜600℃）±1℃（＞600℃）

• 支持反射/透射模式

• 氣密腔室，可通保護(hù)氣體

• 腔室可升級(jí)真空腔室（10^(-3)  mbar）

• 上位機(jī)軟件控制 支持改動(dòng)或定制

三、儀器主要技術(shù)參數(shù)：